日本電測densoku渦流膜厚儀DS-110

晶體振蕩可實現(xiàn)彎曲/球形對的高精度和短測量時間。

通過數(shù)字
開始測量，同時撥動開關即可輕松讀取測量值顯示，測量時間甚至在一秒鐘之內即可獲得
晶振方法，穩(wěn)定性高（±1％）高精度
無損，但由于全面檢查可以
直接讀取無需轉換，因為它是一個表達式

渦流膜厚儀DS-110的特點

易于閱讀的數(shù)字

測量值顯示是數(shù)字的，易于閱讀。

可以立即測量

開關一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內。

高穩(wěn)定性（±1％）高精度

由于采用了晶體振蕩方法，因此具有高穩(wěn)定性（±1％）和高精度。

可以100檢查

由于它是非破壞性的，因此可以進行100的檢查。

無需轉換

它是直接讀取類型，不需要轉換。

支持各種測量

您可以測量金屬上的薄膜，鍍層，涂層，樹脂等。（例如：鋁上的氧化膜，鐵上的鋅鍍層，噴漆）

z多可保存1000個數(shù)據(jù)

一條檢查線可以保存1000條數(shù)據(jù)。

還可以測量非金屬上的金屬膜

可以測量非金屬上的金屬膜（例如塑料上的鍍層）。

標配4種膜厚，z多可測量70種膜厚

通過切換開關，您z多可以測量4種類型的膜厚。此外，通過在制造商處更換檢測線，可以測量70多種類型的膜厚。

可以在曲面，球形體和內管上進行測量

也可以在曲面和球形物體上進行測量。另外，可以測量管等的內表面（φ12.7mm以上）。

打印輸出功能

您可以打印出測量數(shù)據(jù)和經過統(tǒng)計處理的值。

日本電測densoku渦流膜厚儀DS-110

渦流式膜厚計DS-110的規(guī)格